重力式單軌IC測試分類機主要開發目的，是運用於半導體測試流程中，承載待測IC進行測試的自動化機械結構的一種自動化設備。其內部結構則是由數個經過謹慎思考設計出的機構所組成的複雜系統。本研究以重力式單軌IC測試分類機作為研究對象，目的在於發展一套具系統化的設計程序，供重力式單軌IC測試分類機創新設計與開發的依據。首先擬以現有的重力式單軌IC測試分類機為研究載具，以功能分析之概念對其進行研究解析，歸納出重力式單軌IC測試分類機應有的基本特性與功能。其次提出一套運動功能符號表示法，進行重力式單軌IC測試分類機各分功能的運動功能方案合成，並找出各分功能可行的構想解；接著進行重力式單軌IC測試分類機之功能構造合成，並擬以形態學圖表法解出所有可行之系統解；最後再擬以決策矩陣法進行評價與優選，列出具有潛力之設計構想，並繪出實體圖。依上述系統化設計流程共得四組具創新性之重力式單軌IC測試分類機。本文之研究成果將有助於重力式單軌IC測試分類機的創新設計與開發。

The purpose of this research is to develop a systematic methodology for the innovative design of Gravity Single Site IC Test Handler. First, basic characteristics of Gravity Single Site IC Test Handler are deduced. Next, all possible variants of function structure are synthesized by using the functional analysis method. Next, a system of kinematic notation is used to generate the principle solutions of each function in a functional structure and all possible design concepts of Gravity Single Site IC Test Handler are created. Then, promising design concepts are evaluated by using the decision matrix method. Finally, feasible design concepts of Gravity Single Site IC Test Handler are provided, and then optimum Gravity Single Site IC Test Handler can be synthesized by using the theory of kinematic design. Based on the foreging, four innovative design conceps of Gravity Single Site IC Test Handler are created step by step. The results of this work are of benefit to the development and innovative design for new Gravity Single Site IC Test Handler。

誌謝................................................................................Ⅰ
中文摘要........................................................................Ⅱ
英文摘要.......................................................................Ⅲ
目錄...............................................................................Ⅳ
圖目錄...........................................................................Ⅵ
表目錄...........................................................................Ⅹ
第一章 前言..........................................................1
1.1 文獻回顧...................................................1
1.2 研究目的與方法.......................................2
1.3 論文架構...................................................4
第二章 重力式單軌IC測試分類機之基本概念..6
2.1 IC定義.......................................................6
2.2 IC測試分類機...........................................12
2.3 IC測試分類機之分類...............................13
2.4 重力式單軌IC測試分類機之構造分析...15
第三章 設計程序..................................................39
3.1 系統化設計程序.......................................39
3.2 設計需求表...............................................42
3.3 設計理論與方法.......................................45
第四章 重力式單軌IC測試分類機之功能構造合成.50
4.1 功能構成合成............................................50
第五章 重力式單軌IC測試分類機之之分功能解.....57
5.1 設計任務....................................................57
5.2 運動功能符號表示法................................63
5.3 運動功能方案分析....................................64
5.4 載入系統之分功能解................................65
5.5 創新之分功能機構解................................74
第六章 重力式單軌IC測試分類機之之系統設計.....79
6.1 創新之功能構造圖....................................79
6.2 載入系統之基本功能構造圖系統解........81
6.3 創新功能構造圖之系統解........................86
6.4 系統解實體圖之繪製................................95
第七章 評價與優選...............................................106
7.1 載入系統之評價與優選............................106
7.2 Ⅰ型功能構造系統解之評估....................108
7.3 Ⅱ型功能構造系統解之評估....................109
7.4 Ⅲ型功能構造系統解之評估....................110
第八章 結論與建議...............................................113
參考文獻.........................................................................115
自述.................................................................................117

1. Lee‚ S., 2000, "Device for loading/unloading modular IC to/from socket in modular IC handler", U.S. Patent No.6,152,755.
2. Sekiba, T., 1992, "Handler used in testing system for semiconductor devices",U.S.Patent No.5,148,100.
3. Ueda, K., 1987, "Handler",J.P.Patent No.62165337.
4. Kim, D. C., Kim, W., and Song, G. Y., 2005, "Tack Structure of Vertical Handler Dielectric,Concerned With Transferring a Device Along a Track, Which is Inclinder at a Specific Angle, By Gravity" K.R.Patent No.KR20050014210.
5. 魏增基，林政銘，張雯堯，1995，”積體電路自動分類機鉗夾裝置”，中華民國專利，公告編號262170。
6. 魏增基，林政銘，張雯堯，1995，”IC自動分類機之鉗夾裝置”，中華民國專利，公告編號237998。
7. 彭聖道，闕石男，1997，”積體電路元件撿測機之構造改良”，中華民國專利，公告編號382496。
8. 濟川敏之，1995，”IC分類裝置用盒固定台”，中華民國專利，公告編號349171。
9. 柯新明，張賢宗，曾明中，翁德奎，”IC分選機構”，中華民國專利，公告編號377878。
10. 謝來福，黃清榮，廖沐盛，謝宜璋，”IC測試分類機之吸持裝置之套合件”，中華民國專利，公告編號446186。
11. 彭紹標，2000，”IC測試分類機之送料構件”，中華民國專利，公告編號549442。
12. 洪誌宏，2000，”IC測試分類機之送料構件”，中華民國專利，公告編號549443。
13. 施光華，楊偉源，陳金福，2002，”積體電路測試機台之完測品收集裝置以及完測品收集方法”，中華民國專利，公告編號555989。
14. 張原龍，2005，”IC測試分類機”，中華民國專利，公告編號200707619。
15. 吳明彥，林保禎，李誠三，2005，”球格陣列封裝測試分類機之通用變更套件”，中華民國專利，公告編號I253705。
16. 林德裔，1996，”積體電路測試機之改良”，中華民國專利，公告編號315981。
17. 林德裔，1996，”積體電路測試機自動送料結構改良”，中華民國專利，公告編號290173。
18. 王忠誠，IC測試設備（分類機）開發評估-以成品系統層級測試自動化應用為例，國立清華大學工業工程與工程管理研究所碩士論文，中華民國九十三年六月。
19. Kota‚ S., and Chiou, S. J., 1992, "Conceptual Design of Mechanisms Based on Computational Synthesis and Simulation of Kinematic Builiding Block, " Research in Engineering Design, Vol. 4, pp. 75-87.
20. Horie, M., Funabashi, H., and Arai, M., 1990, "Automatic Generation of Mechanical Systems with Consideration of Types of Input and Output Motions, "日本機械學會論文集(C篇)，56卷525號，第253-259頁。
21. Crossley, E., 1980, "A Shorthand Route to Design Creativity, " Research in Machin Design, pp. 96-100。
22. Pahl, G.,and Beitz, W., Engineering Design, Springer, 1996.
23. 許正和，2006，產品創新設計上課講義，中山大學機電整合系。
24. 鄭良安，2001，機械元件之系統化設計，全華科技圖書股份有限公司出版。
25. 黃忠良，1988，新設計觀念與實際－工程與機械加工製造，復漢出版社有限公司出版。
26. 郭嘉龍，2000，半導體封裝工程，全華科技圖書股份有限公司出版。
27. 實威科技，2004，SolidWorks 2004－原廠教育訓練手冊，知域數位科技有限公司出版。
28. Rasco自動化公司網頁，http:// www.rasco.de。
29. 致茂電子自動化公司網頁，http:// /www.chromaate.com