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論文名稱 Title |
分子束磊晶成長之m 面與c 面氮化鎵之電容電壓量測分析 Capacitance-voltage analyses of m-plane and c-plane gallium nitride grown by MBE |
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系所名稱 Department |
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畢業學年期 Year, semester |
語文別 Language |
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學位類別 Degree |
頁數 Number of pages |
114 |
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研究生 Author |
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指導教授 Advisor |
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召集委員 Convenor |
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口試委員 Advisory Committee |
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口試日期 Date of Exam |
2009-07-21 |
繳交日期 Date of Submission |
2009-08-26 |
關鍵字 Keywords |
氮化鎵、m面、電容電壓、原子層沉積、氮化銦、氧化鋁 GaN, InN, Al2O3, m-plane, C-V, ALD |
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統計 Statistics |
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中文摘要 |
本文主要以探討c 面與m 面氮化鎵的差異,並試著以C-V 來觀察 其差異。 本實驗乃採用原子層沉積系統(Atomic Layer Deposit, ALD)成長 Al2O3於Si(111), c-plane ,N-face GaN, m-plane GaN, c-plane N-face InN 以及m-plane InN 基材以製作金-氧-半二極體(MOS 二極體),其後 以100kHz 正弦波信號來量測高頻電容;並以電荷電壓法 (Charge-Voltage)量暫穩態之電容與樣品漏電。 以Si(111)為基材製作的MIS 結構,我們可以發現其平帶電壓離 理論值甚遠,由此可推測氧化層內部尚含電荷;此外,我們輔以低頻 量測與高頻量測,以暫穩態法(Quasi-static Method)估算界面陷阱電荷 量,估算結果約為1012 cm-2.eV-1;由參考資料[13]可知,SiO2/Si(111) 的界面陷阱電荷密度,理論上應該在1011 cm-2。同時我們將C-V 量測 得到的載子濃度與霍爾量測量到的載子濃度做比較,發現電容電壓量 測值偏高。此外,我們還將霍爾量到載子濃度,C-V 量到的COX 帶入 理想低頻C-V 公式得到的理想曲線作比對,發現電容最小值皆高於 模擬值。 在兩片GaN 樣品上,我們看到了深度空乏現象,而且以電荷電 壓法量到的C-V 曲線型狀與高頻類似。此現象說明了,GaN 的少數 3 載子產生時間甚長。此外我們利用照光輔助電容電壓量測,用以估算 GaN 的平均界面態密度,發現m-GaN 與c-GaN 相去不遠,其平均介 面態密度約落在1.7×1016 m-2.eV-1 ∼ 1.9×1016 m-2.eV-1。唯一有明 顯差異的,是平帶電壓的平移。經大量取樣數據分佈觀察可知,c-GaN 有相對m-GaN 偏負電的平帶電壓。 以InN 為基材的樣品,我們看到了中間低,左右高的C-V 曲線。 截至目前為止,尚無團隊公開於期刊尚未公布完整的InN 的C-V 曲 線。也因此目前尚不確定能否以一般用於計算半導體的方式來分析 InN 的C-V 數據。 |
Abstract |
This thesis will talk about the difference between c-plane and m-plane GaN. We use C-V measurement and try to find the difference from C-V result. We use atomic layer deposit (ALD) to deposit Al2O3 no n-Si (111), p-Si (111), c-GaN, m-GaN, c-InN and m-InN for making MOS structure. And use 100 kHz to measure high frequency C-V and charge-voltage method to measure quasi-static capacitance and leakage current. The process and how the instrument work will present in article. In Si (111) case, the flat-band voltage is far away from ideal value. This tells us charge in oxide. Result of quasi-static method shows interface state density is between 1011 cm-2.eV-1 to 1012 cm-2.eV-1. From Ref. 13, SiO2-Si system with 1011 cm-2 interface trap charge density for Si (111). We compare C-V carrier concentration with Hall carrier concentration and find some difference. We put C-V result of experiment and simulated with COX and Hall carrier concentration we measured. In GaN case, here is deep depletion in C-V result. And quasi-static result also shows deep depletion of GaN. This phenomenon means generate time of hole of n-type GaN is very long. And we use light to excite electron and hole and measure C-V for average surface density of state. The density of stay of Al2O3/m-GaN and Al2O3/c-GaN system is similar. Only appearance difference between Al2O3/m-GaN and Al2O3/c-GaN is position of flat-ban voltage. flat-ban voltage of c-GaN is more negative than m-GaN. For InN, we see “the middle is lower than edge” curve. Recently, few group present complete C-V curve of InN. We can not sure whether we can use typical way to analyze this data. |
目次 Table of Contents |
摘要 1 第一章 導論 4 第二章 實驗理論 6 2-1 MOS 結構之電容與電壓關係與分析方式 6 2-1-1 理想MOS 二極體 6 2-1-2 理想MOS 二極體高低頻曲線模擬 13 2-1-3 非理想效應 17 2-2 霍爾效應 29 2-2-1 霍爾棒量測 29 2-2-2 Van der Pauw 法量電阻率 31 第三章 儀器與量測技術介紹 32 3-1 C-V 量測 32 3-1-1 高頻量測 32 3-1-2 低頻量測 33 3-2 掃描式電子顯微鏡 36 3-3 X 光繞射儀 37 3-4 分子束磊晶系統 38 3-5 電子束蒸鍍系統 39 3-6 原子層沉積系統 40 3-7 電感耦合電漿蝕刻系統 43 第四章 實驗 45 4-1 實驗設定 45 4-2 樣品製備 45 4-2-1 正式樣品後段製程 45 4-3 量測分析設定 48 4-3-1 量測設定 48 4-3-2 數據分析原則 50 4-4 量測結果與討論 53 4-4-1 測式品 n-type Si(111) 53 4-4-2 測試品 p-type Si(111) 59 4-4-3 測試樣品之結果討論 67 4-4-4 c-GaN C-V 量測結果 68 4-4-5 c-GaN C-V 量測結果 76 4-4-6 m-GaN 與c-GaN 橫向比較與討論 84 4-4-7 c-InN C-V 量測結果 88 4-4-8 m-InN C-V 量測結果 90 4-4-9 m-InN 與c-InN 之量測結果討論 92 4-5 結論 93 參考資料 94 附錄 本論文使用之c-GaN、m-GaN、c-InN、m-InN 之資訊 96 |
參考文獻 References |
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