我們的主要工作是利用LabVIEW為平台來架構實驗室內的半導體材料光學及電性量測系統儀控軟體。在光學量測的部份，我們發展了一套光譜量測程式，這套程式可以藉由適當的修改而應用到各種不同形式的光譜量測系統當中。接下來，我們利用氮磷化鎵材料穿透光譜的量測來驗證我們的程式。
在電性量測的部份，首先我們發展了一套半導體材料電流電壓特性曲線量測程式，可用來判斷所焊接的金屬電極與半導體材料是否形成歐姆接面；最後再發展了一套半導體材料持續性光電導發展曲線量測程式，可用來記錄半導體材料在照光後，導電性增加與停止照光後，導電性並不是馬上衰減的有趣物理現象。

Our major work is to use LabVIEW as the platform to develop the instrument control programs for measuring the optical and electrical properties of semiconductor materials.
To measure the optical properties of semiconductor materials, we developed an optical spectroscopy control program. The program can be modified to make it suitable for many kinds of optical spectroscopy systems. Here we use it to measure the transmission spectrum of GaNP bulk material.
To measure the electrical properties of semiconductor materials, we developed a program to record the I-V characteristic curve of the device under test. We can use it to check the ohmic property of contact form between metal electrode and semiconductor material. Finally, we developed a program to record the photoconductivity build-up and decay transient curve.

第一章 導論 1
1-1 何謂LabVIEW 1
1-2 為何要使用LabVIEW 3
1-3 撰寫LabVIEW程式的重點 4

第二章 基本模組程式 7
2-1 基本程式模組介紹 7
2-2 撰寫程式所用到的LabVIEW結構及函式 8
2-2-1 While Loop結構 9
2-2-2 For Loop結構 10
2-2-3 Shift Registers暫存器 11
2-2-4 Sequence 結構 12
2-2-5 Waveform Chart與Waveform Graph 12
2-3 撰寫程式所需要的儀器指令 13
2-4 掃瞄『Scan』模組程式的架構及使用方法 23
2-5 平均『Average』模組程式的架構及使用方法 27
2-6 計時『Timing』模組程式的架構及使用方法 30

第三章 模組程式的應用 32
3-1 應用程式介紹 32
3-2 撰寫觀察光電導現象應用程式目的 32
3-3 光電導程式的邏輯架構 33
3-4 撰寫量測電流電壓特性曲線應用程式目的 43
3-5 電流電壓特性曲線控制程式的邏輯架構 47
3-6 撰寫基本光譜量測程式的目的 52
3-7 量測光譜程式的邏輯架構 53

第四章 程式功能之介紹 69
4-1 簡介 69
4-2 觀察光電導現象的應用程式 69
4-3 量測元件電流電壓特性曲線的應用程式 73
4-4 用來量測光譜的基本程式 75

第五章 程式之驗證 79
5-1 驗証程式所設計的實驗 79
5-2 藉由LED及電源電錶來觀測光電導及持續光電導現象 79
5-2-1 半導體材料光電導現象的介紹 79
5-2-2 實驗步驟 79
5-2-3 實驗結果 81
5-3 量測半導體元件之電流電壓（I-V）特性曲線 82
5-3-1 半導體元件之電流電壓特性曲線 82
5-3-2 實驗步驟 84
5-3-3 實驗結果 85

5-4 測試平均程式消除系統擾動的功效 87
5-4-1 平均模組程式介紹 87
5-4-2 實驗步驟 88
5-4-3 解決方案 91
5-4-4 實驗結果 91

第六章 結論 99

第七章 參考文獻 102

[01] Introduction to LabVIEW 8 in 6 hours.
[02] Getting Started with LabVIEW. November 2001. Part Number 321527E-01. http://www.ni.com/manuals.
[03] LabVIEW User’s Manual. November 2001. Part Number 320999D-01. http://www.ni.com/manuals.
[04] LabVIEW Student Edition. http://www.ni.com/labviewse.
[05] Bishop, Robert H. (2001), Prentice-Hall Inc. Upper Saddle River, NJ., Section 10.
[06] Model 2400 Series Source Meter User Manual (Keithley Intruments, Inc, 2002).
[07] LabVIEW Driver Supplement to the Spectrometer Control Manual. October, 2001. Part Number 80123A. (Instruments S.A., Inc., JOBIN YVON-SPEX Division ).
[08] MODEL SR830 DSP Lock-In Amplifier User Manual (Stanford Research Systems, 2004).
[09] H. M. Chen, Y. F. Chen, M. C. Lee, M. S. Feng, J. Appl. Phys. 82 No2, 15 (1997).
[10] Mark Fox, Optical Properties of Solids (Oxford University Press, Inc., New York, 2001).